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May 06, 2023

El proveedor de semiconductores de carburo de silicio selecciona el sistema FOX de Aehr para la prueba y quemado de nivel de obleas

FREMONT, CA / ACCESSWIRE / 25 de enero de 2023 / Aehr Test Systems (NASDAQ:AEHR),

FREMONT, CA / ACCESSWIRE / 25 de enero de 2023 / Aehr Test Systems (NASDAQ:AEHR), un proveedor mundial de equipos de calificación de confiabilidad y prueba de producción de semiconductores, anunció hoy que un nuevo cliente ha seleccionado su sistema de prueba y quemado FOX-PTM para ser utilizado para la calificación y prueba de nivel de obleas de producción y quemado de su carburo de silicio Dispositivos para vehículos eléctricos de automoción.

Este nuevo cliente, que es un proveedor de semiconductores de carburo de silicio y nitruro de galio, seleccionó la solución FOX de Aehr en función de su capacidad comprobada para implementar de manera rentable sus requisitos de estabilización y quemado objetivo, incluida la trazabilidad del 100% de que cada dispositivo en la oblea está correctamente quemado en.

Este cliente comenzará la calificación de su dispositivo con un proveedor externo de ensamblaje y prueba de semiconductores (OSAT) líder en el mundo que se asoció con Aehr y tiene la capacidad del sistema FOX-P instalada y es capaz de realizar una prueba de nivel de oblea completa de carburo de silicio y un quemado del 100 %. de dispositivos por oblea en una sola inserción. El cliente comprará los contactores de oblea completos FOX WaferPakTM y los programas de prueba de aplicaciones de Aehr, y los servicios de prueba del proveedor de ensamblaje y prueba para la calificación inicial del dispositivo. Una vez calificados los dispositivos, se espera que el cliente compre el nuevo sistema FOX-P y la capacidad de WaferPak directamente de Aehr o a través de este OSAT.

Gayn Erickson, presidente y director ejecutivo de Aehr Test Systems, comentó: "Estamos muy emocionados de anunciar otro nuevo cliente que ha seleccionado nuestra solución FOX para probar y quemar sus dispositivos de carburo de silicio. Trazabilidad y prueba de que cada dispositivo se quema durante la duración necesaria de la prueba, sin ninguna posibilidad de escape de prueba que pueda permitir que un dispositivo supere el proceso y luego falle en el campo, es fundamental para las aplicaciones automotrices en las que se utilizarán estos dispositivos. En el caso del carburo de silicio utilizado en los inversores de tracción que convierten la energía de la batería de CC de alto voltaje en corriente CA que impulsa los motores eléctricos, una falla del dispositivo da como resultado un 'evento de caminar a casa', donde el conductor y todos los pasajeros salen del vehículo y caminan a casa.

"Los sistemas FOX-P de Aehr y los contactores de oblea completa WaferPak patentados permiten a nuestros clientes realizar pruebas económicas de volumen de producción y quemado de confiabilidad con procesos como la polarización de compuerta de alta temperatura (HTGB) y la polarización inversa de alta temperatura (HTRB) de manera muy rentable y garantizan Dispositivo de calidad extremadamente alta.Nuestros sistemas proporcionan una duración del ciclo de prueba de 12, 18 o 24 horas o más por centavos o centavos por costo de depreciación de capital del dispositivo, y en un espacio que es hasta 18 veces menor que un sistema de prueba típico en un sonda de obleas de semiconductores estándar ofrecida por proveedores alternativos.

"Aehr se ha asociado con este OSAT para brindar soporte llave en mano de múltiples aplicaciones, incluidos dispositivos fotónicos de silicio utilizados en datos, 5G y futuras unidades centrales de procesamiento (CPU) y conjuntos de chips, además de carburo de silicio y nitruro de galio utilizados en vehículos eléctricos, energía solar, infraestructura industrial y de otro tipo. Alentamos a las empresas interesadas en obtener más información sobre esta asociación OSAT con Aehr a que se comuniquen con nuestro departamento de ventas para obtener más información.

"Los pronósticos de William Blair estiman que se espera que el mercado de carburo de silicio para dispositivos solo en vehículos eléctricos, como inversores de tracción y cargadores a bordo, crezca de 119 000 obleas de carburo de silicio equivalentes a 6 pulgadas para vehículos eléctricos en 2021 a más de 4,1 millones de obleas equivalentes a 6 pulgadas en 2030, lo que representa una tasa de crecimiento anual compuesta (CAGR) del 48,4 %. Esto equivale a casi 35 veces más en 2030 que en 2021. Además, las obleas de carburo de silicio equivalentes a 6 pulgadas para otros mercados como Se espera que la infraestructura de electrificación solar, industrial y de otro tipo crezca a otros tres millones de obleas para 2030.

"La familia FOX de sistemas compatibles, incluidos los sistemas de prueba y quemado de múltiples obleas FOX-NP y FOX-XP, y los contactores de obleas completos WaferPak patentados por Aehr, brindan una solución rentable única para grabar en múltiples obleas de dispositivos al mismo tiempo. para eliminar las fallas tempranas de la vida útil de los dispositivos de carburo de silicio, lo cual es fundamental para cumplir con la calidad inicial y la confiabilidad a largo plazo que necesita la industria automotriz, industrial y de infraestructura de electrificación.El sistema FOX-XP se puede configurar con hasta 9 o 18 obleas según en los requisitos de prueba específicos del cliente y la configuración de energía y es totalmente compatible con el sistema FOX-NP de Aehr, que es un sistema de dos obleas que es ideal para la introducción y calificación de nuevos productos".

Los sistemas FOX-XP y FOX-NP, disponibles con múltiples configuraciones de contactores WaferPak (prueba de oblea completa) o múltiples portadores DiePakTM (prueba de módulo/dado individual), son capaces de realizar pruebas funcionales y quemado/ciclado de dispositivos tales como carburo de silicio. y semiconductores de potencia de nitruro de galio, fotónica de silicio, así como otros dispositivos ópticos, sensores 2D y 3D, memorias flash, sensores magnéticos, microcontroladores y otros circuitos integrados de vanguardia en cualquier factor de forma de oblea, antes de que se ensamblen en una o varias matrices. paquetes apilados, o en factor de forma de matriz o módulo individual.

Acerca de los sistemas de prueba Aehr

Con sede en Fremont, California, Aehr Test Systems es un proveedor mundial de sistemas de prueba para dispositivos semiconductores quemados a nivel de oblea, matriz individual y forma de pieza de paquete, y ha instalado más de 2500 sistemas en todo el mundo. Las crecientes necesidades de calidad y confiabilidad de los mercados de circuitos integrados de automoción y movilidad están impulsando requisitos de prueba adicionales, necesidades de capacidad incremental y nuevas oportunidades para los productos de prueba Aehr en paquete, nivel de oblea y prueba de nivel de matriz/módulo individual. Aehr Test ha desarrollado y presentado varios productos innovadores, incluidas las familias de sistemas de prueba y quemado ABTSTM y FOX-PTM y FOX WaferPakTM Aligner, FOX WaferPak Contactor, FOX DiePak® Carrier y FOX DiePak Loader. El sistema ABTS se utiliza en pruebas de producción y calificación de piezas empaquetadas para dispositivos lógicos de menor y mayor potencia, así como para todos los tipos comunes de dispositivos de memoria. Los sistemas FOX-XP y FOX-NP son sistemas de prueba y quemado de matriz/módulo y contacto de oblea completo que se utilizan para la prueba funcional y de quemado de dispositivos complejos, como semiconductores de potencia basados ​​en carburo de silicio de última generación, memorias, procesadores de señales digitales, microprocesadores, microcontroladores, sistemas en un chip y dispositivos ópticos integrados. El sistema FOX-CP es una nueva solución de verificación de confiabilidad y prueba compacta de una sola oblea de bajo costo para dispositivos lógicos, de memoria y fotónicos y la última incorporación a la familia de productos FOX-P. El contactor WaferPak contiene una tarjeta de sonda de obleas completa única capaz de probar obleas de hasta 300 mm que permite a los fabricantes de circuitos integrados realizar pruebas y quemado de obleas completas en sistemas Aehr Test FOX. El DiePak Carrier es un paquete temporal reutilizable que permite a los fabricantes de circuitos integrados realizar una prueba final y un quemado rentables tanto del troquel como de los módulos. Para obtener más información, visite el sitio web de Aehr Test Systems en www.aehr.com.

Declaración de puerto seguro

Este comunicado de prensa contiene ciertas declaraciones prospectivas dentro del significado de la Sección 27A de la Ley de Valores de 1933 y la Sección 21E de la Ley de Bolsa de Valores de 1934. Las declaraciones prospectivas generalmente se relacionan con eventos futuros o el desempeño financiero u operativo futuro de Aehr. En algunos casos, puede identificar declaraciones prospectivas porque contienen palabras como "puede", "hará", "debería", "espera", "planea", "anticipa", "va a", "podría", "pretende", "objetivo", "proyecta", "contempla", "cree", "estima", "predice", "potencial" o "continúa", o el negativo de estas palabras u otros términos o expresiones similares que se refieren a las expectativas, la estrategia, las prioridades, los planes o las intenciones de Aehr. Las declaraciones a futuro en este comunicado de prensa incluyen, entre otros, requisitos y pedidos futuros de los clientes nuevos y existentes de Aehr; reservas previstas para consumibles patentados WaferPakTM y DiePak; y expectativas relacionadas con la demanda a largo plazo de las producciones de Aehr y el atractivo de los mercados clave. Las declaraciones prospectivas contenidas en este comunicado de prensa también están sujetas a otros riesgos e incertidumbres, incluidos los que se describen con más detalle en el reciente Formulario 10-K, 10-Q de Aehr y otros informes presentados ocasionalmente ante la Comisión de Bolsa y Valores. Aehr renuncia a cualquier obligación de actualizar la información contenida en cualquier declaración prospectiva para reflejar eventos o circunstancias que ocurran después de la fecha de este comunicado de prensa.

contactos:

Sistemas de prueba AehrVernon RogersVP ejecutivo de ventas y marketing(510) 623-9400 [email protected]

mkr relaciones con inversores inc.Todd Kehrli o Jim ByersAnalista/Contacto para inversores(213) [email protected]

FUENTE:Sistemas de prueba Aehr

Ver la versión fuente en accesswire.com: https://www.accesswire.com/736663/Silicon-Carbide-Semiconductor-Supplier-Selects-Aehr-FOX-System-for-Wafer-Level-Test-and-Burn-in- de-dispositivos-de-carburo-de-silicio-para-vehículos-eléctricos-automotrices

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